MOSFET, N-Canal onsemi BUZ11-NR4941, VDSS 50 V, ID 30 A, Mejora, TO-220 de 3 pines

Desconto aplicável por quantidade
Ver preços por quantidade

Subtotal (1 embalagem de 5 unidades)*

7,72 €

Add to Basket
Selecione ou digite a quantidade
Últimas unidades em stock
  • Mais 295 unidade(s) para enviar a partir do dia 14 de setembro de 2026
  • Última(s) 35 unidade(s) para enviar a partir do dia 21 de setembro de 2026

Unidad(es)
Por unidade
Por Embalagem*
5 - 451,544 €7,72 €
50 - 951,332 €6,66 €
100 - 4951,152 €5,76 €
500 - 9951,016 €5,08 €
1000 +0,922 €4,61 €

*preço indicativo

Opções de embalagem:
Código RS:
761-3515
Referência do fabricante:
BUZ11-NR4941
Fabricante:
onsemi
Seleciona um o mais atributos para encontrar produtos semelhantes.
Selecionar tudo

Marca

onsemi

Tipo de canal

N

Tipo de producto

MOSFET

Corriente continua máxima de drenaje ld

30A

Tensión máxima Drenador-Fuente Vds

50V

Encapsulado

TO-220

Serie

BUZ11

Tipo de montaje

Orificio pasante

Número de pines

3

Resistencia máxima Drenador-Fuente Rds

40mΩ

Modo de canal

Mejora

Disipación de potencia máxima Pd

75W

Temperatura de Funcionamiento Mínima

-55°C

Tensión máxima de la fuente de la puerta

20V

Temperatura de funcionamiento máxima

150°C

Longitud

10.67mm

Certificaciones y estándares

No

Altura

16.51mm

Anchura

4.83mm

Estándar de automoción

No

MOSFET de canal N para modo de mejora, Fairchild Semiconductor


Los transistores de efecto de campo (FET) para modo de mejora se producen utilizando la exclusiva tecnología DMOS de alta densidad celular de Fairchild. Este proceso de alta densidad se ha diseñado para minimizar la resistencia en funcionamiento, proporcionar un rendimiento fiable y resistente y una conmutación rápida.

Transistores MOSFET, ON Semi


On Semi ofrece una cartera sustancial de dispositivos MOSFET que incluye>< tipos de alta tensión ( 250 V) y baja tensión ( 250 V). La avanzada tecnología de silicio proporciona tamaños de terraja más pequeños, que se integran en varios encapsulados estándar del sector y están térmicamente mejorados.

En los SemiMOSFETs proporciona una fiabilidad de diseño superior, desde picos de tensión reducidos y sobredisparo, hasta menor capacitancia de unión y carga de recuperación inversa, hasta la eliminación de componentes externos adicionales para mantener los sistemas en funcionamiento y en funcionamiento durante más tiempo.

Links relacionados

Mantenha-se a par das últimas novidades e ofertas

Introduza o seu endereço de email

A informação pessoal que nos proporcionar ao subscrever esta newsletter será processada de acordo com a nossa política de privacidade.