AEC-Q100 EEPROM STMicroelectronics, 256 kB, 32k x, 8, Serie I2C, 450 ns, 8 pines UFDFPN

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Código RS:
190-6758
Número do artigo Distrelec:
303-97-143
Referência do fabricante:
M24256-BFMC6TG
Fabricante:
STMicroelectronics
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Marca

STMicroelectronics

Tipo de producto

EEPROM

Tamaño de la memoria

256kB

Tipo de interfaz

Serie I2C

Encapsulado

UFDFPN

Tipo de montaje

Superficie

Número de pines

8

Frecuencia del reloj máxima

1MHz

Organización

32K x 8 Bit

Tensión de alimentación mínima

1.7V

Número de bits por palabra

8

Tensión de alimentación máxima

5.5V

Temperatura de Funcionamiento Mínima

-40°C

Temperatura de funcionamiento máxima

85°C

Longitud

2.1mm

Altura

0.6mm

Certificaciones y estándares

RoHS 2011/65/EU

Anchura

3 mm

Serie

M24256

Número de palabras

32k

Tiempo de acceso aleatorio máximo

450ns

Corriente de suministro

2.5mA

Almacenamiento de datos

200year

Estándar de automoción

AEC-Q100

El M24256-BW puede funcionar con una tensión de alimentación de 2,5 V a 5,5 V, el M24256-BR y el M24256-DR pueden funcionar con una tensión de alimentación de 1,8 V a 5,5 V, y el M24256-BF y el M24256-DF pueden funcionar con una tensión de alimentación de 1,7 V a 5,5 V. Todos estos dispositivos funcionan con una frecuencia de reloj de 1 MHz (o menos), en un rango de temperatura ambiente de –40 °C / +85 °C.

Compatible con todos los modos de bus I2C:

1 MHz

400 kHz

100 kHz

Matriz de memoria:

256 Kbit (32 Kbyte) de la memoria EEPROM

Tamaño de página: 64 bytes

Página adicional con bloqueo de escritura

Tensión de alimentación única y alta velocidad:

Reloj de 1 MHz de 1,7 V a 5,5 V.

Escribir:

Escritura de byte en 5 ms

Escritura de página en 5 ms

Rango de temperaturas de funcionamiento:

De -40 °C a +85 °C.

Modos de lectura aleatoria y secuencial

Protección contra escritura de toda la matriz de memoria

Protección mejorada contra ESD/Latch-Up

Más de 4 millones de ciclos de escritura

Más de 200 años de retención de datos

Paquetes

SO8

TSSOP8

UFDFPN8

WLCSP

Oblea Unsawn (cada dado se prueba)

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