Kit de desarrollo analógico EVAL-ADE7753ZEB Circuito integrado de medición de energía ADE7753Z

Placa de evaluación para CI de medición de energía ADE7753

La placa de evaluación EVAL-ADE7753ZEB, de Analog Devices, se ha diseñado para que el ADE7753 se pueda evaluar fácilmente en su aplicación final, por ejemplo, un contador de vatios-horas. Si se usan los transductores correspondientes en el canal de corriente (por ejemplo, derivación, CT, sensor di/dt, etc. ), la placa de evaluación se puede conectar a un banco de prueba o a un circuito de prueba de alta tensión (240 V rms). La placa de evaluación EVAL-ADE7753ZEB (contador de vatios-horas) está configurada y calibrada a través del puerto paralelo de un PC. La atenuación para la tensión de línea se consigue mediante una red de divisores de resistencias integrada. La interfaz de datos entre la placa de evaluación y el PC está completamente aislada.
La placa de evaluación EVAL-ADE7753ZEB se puede configurar eficientemente como un medidor de energía cuando se utiliza con el software basado en Windows™ que se proporciona con la placa. La placa de evaluación también funciona como un sistema de evaluación independiente. Esto se puede incorporar fácilmente a un sistema existente a través de un conector D-Sub de 25 vías. La placa de evaluación EVAL-ADE7753ZEB requiere dos fuentes de alimentación externa de 5 V (una es necesaria para fines de aislamiento) y el transductor de corriente adecuado.

Características de la EVAL-ADE7753ZEB:
- Placa de evaluación diseñada para utilizarse junto con software complementario para implementar un medidor de energía completamente funcional (contador de vatios-horas)
- Conexión sencilla de varios transductores externos a través de terminales roscados
- Modificación sencilla de componentes de acondicionamiento de señal utilizando los conectores hembra de PCB
- Indicadores LED en salidas lógicas CF, ZX, SAG e IRQ
- Conexión de salida de datos aislados ópticamente a puerto paralelo de PC
- Salida de frecuencia aislada ópticamente (CF) a BNC
- Opción de referencia externa disponible para una evaluación de referencia en chip