Placa de evaluación Traductor de reloj onsemi - NB4N527SMNEVB

ON Semiconductor ha desarrollado una placa de evaluación para el dispositivo NB4N527S como comodidad para los clientes interesados en realizar su propia evaluación de ingeniería de dispositivos. Esta placa proporciona un entorno de impedancia controlada de 50 Ω de ancho de banda alto. La placa de evaluación QFN de 16 cables se implementa en cuatro capas con fuentes de alimentación divididas (dobles).

Frecuencia de reloj de entrada máxima hasta 1,25 GHz
Velocidad de datos de entrada máxima hasta 2,5 Gb/s
Retardo de propagación máxima de 500 ps
Fluctuación RMS máxima de 2 ps
Tiempos de subida y bajada máximos de 300 ps
Fuente de alimentación única, VCC = 3,3 V +/- 10 %
Salidas LVDS conformes con TIA/EIA644 compensadas por temperatura
Resistencia de terminación interna de 50 por contacto de entrada
Gama VCMR GND + 50 mV a VCC 50 mV