Placa de evaluación Fusible electrónico onsemi Strata Enabled eFuse EVB - STR-NIS5020-GEVB

ON Semiconductor es una placa de evaluación para el NIS5020 eFuse dentro del entorno de desarrollo Strata y ofrece un límite de corriente de disparo programable, una velocidad de disparo programable y características de protección térmica. La placa de evaluación proporciona una carga de cortocircuito integrada para probar las características de protección de cortocircuito del eFuse. Esta placa de evaluación debe utilizarse con Strata para controlar el eFuse y controlar la telemetría, como tensión de entrada/salida, corriente de entrada/salida y temperatura.

Gama Vin de 9,2 V a 18 V
Múltiples opciones de corriente de sobrecarga
2 eFuse controlados de forma independiente que se pueden colocar en paralelo
Velocidad de precesión programable